ODM（High-accuracy Optical Delay Measurement System）是一套基于微波光子学测量方法，能够实现测量光纤长度、光电链路延时参数的软硬件系统的总称。源自于科研转化。本仓库即为 ODM 的软件部分，主要基于 C 语言与 NI 公司的 CVI 开发，实现了仪器控制、参数设置、数据展示、权限管理等各项功能。
